產(chǎn)品展示NEWS CENTER
在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽和科學(xué)的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展
首頁-產(chǎn)品展示-智能裝備解決方案-手機行業(yè)檢測設(shè)備-MINSM-100IR檢測排片設(shè)備
產(chǎn)品型號：MINSM-100
簡要描述：IR檢測排片設(shè)備用于手機濾光片上下表面及測面檢測，設(shè)備采用轉(zhuǎn)盤式高速物料流轉(zhuǎn)方案。設(shè)備包含Wafer并行高速上下料，Wafer 掃碼、Wafer 擴模、頂針頂片、多吸嘴取片、濾光片兩面缺陷檢測、高精度排片、NG片回收等功能。設(shè)備上表面及下表面?zhèn)让鏅z測工位，通過高分辨率光學(xué)系統(tǒng)，對濾光片崩點、臟污、劃傷、絲印進行等進行高精度測量檢測。特別針對濾光片凹坑檢測這個業(yè)界難點，該設(shè)備集成了我司最新研制的凹坑
企業(yè)實力
Enterprise Strength
有效保修
Valid Warranty
質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY相關(guān)文章
RELATED ARTICLES
詳細介紹
| 品牌 | SOPTOP/舜宇 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
IR檢測排片設(shè)備用于手機濾光片上下表面及測面檢測，設(shè)備采用轉(zhuǎn)盤式高速物料流轉(zhuǎn)方案。設(shè)備包含Wafer并行高速上下料，Wafer 掃碼、Wafer 擴模、頂針頂片、多吸嘴取片、濾光片兩面缺陷檢測、高精度排片、NG片回收等功能。設(shè)備上表面及下表面?zhèn)让鏅z測工位，通過高分辨率光學(xué)系統(tǒng)，對濾光片崩點、臟污、劃傷、絲印進行等進行高精度測量檢測。特別針對濾光片凹坑檢測這個業(yè)界難點，該設(shè)備集成了我司最新研制的凹坑檢測專用光學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)了凹坑缺陷的高準(zhǔn)確率識別。另外，設(shè)備具備缺陷分類、SPC統(tǒng)計、MES數(shù)據(jù)上拋等信息化功能。該設(shè)備為行業(yè)某頭部公司定制開發(fā)，為業(yè)內(nèi)具備濾光片上下表面缺陷全覆蓋檢測的高速面檢設(shè)備。
高速取排片
采用輕量化高速轉(zhuǎn)塔設(shè)計，配合分離式下壓Z軸與XYU取排片平臺，實現(xiàn)高速取排，CT＜0.7s。
|
|
|
高速轉(zhuǎn)塔 | 分離式Z軸 | XYU取片平臺 |
IR
片多類型缺陷檢測
IR檢測排片設(shè)備采用高分辨率光學(xué)系統(tǒng)對濾光片臟污、印子、劃傷、水印、絲印相關(guān)缺陷及凹坑等進行高精度檢測。
產(chǎn)品咨詢
相關(guān)產(chǎn)品
型號：MINSM-100
型號：MINSM-100
型號：MINSM-100
型號：MINSM-100
SCROLL
聯(lián)系人：營銷部
手機：400-8929919
座機：0574-62530070
地址：浙江省余姚市陽明街道舜宇路66-68號
快速導(dǎo)航
產(chǎn)品系列
產(chǎn)品推薦
Copyright©2024 寧波舜宇儀器有限公司版權(quán)所有 All Rights Reserved 備案號：浙ICP備2023051240號-1
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
產(chǎn)品咨詢
聯(lián)系我們
